Materialwissenschaften

Materialwissenschaften

  • Die Materialwissenschaften sind ausgesprochen interdisziplinär. Sie beschäftigen sich nicht nur mit der Erforschung und Entwicklung neuer Materialien, sondern auch mit der Verbesserung von Herstellungsprozessen und der Qualitätskontrolle von Produkten. WITec Imagingsysteme sind für umfassende Analysen in den Materialwissenschaften besonders geeignet, denn sie ermöglichen sowohl die Analyse der Oberflächenmorphologie wie auch der chemischen Zusammensetzung der Proben.

Anwendungsbeispiele

  • WITec Topographic Raman Metal Screw
    Topografisches, konfokales Raman-Bild einer Metallschraube, aufgenommen mit TrueSurface-Mikroskopie. Analyse des Gewindes auf Kontaminationen.
  • WITec Raman Stress Silicon
    Materialspannung in Silizium, dargestellt via Peak-Shift-Analyse. Blau: Zugspannung; Gelb: Druckspannung.
  • Die vielseitigen Instrumente von WITec nutzen verschiedene bildgebende Verfahren, um aus den  Messdaten möglichst umfassende Erkenntnisse zu gewinnen. Verschiedene Kombinationen können in einem Mikroskop-Aufbau miteinander kombiniert werden: konfokales Raman-Imaging, Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Konfokales Raman-Imaging liefert chemische Informationen, AFM detektiert Topografie, Struktur und physikalische Eigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion der Probenoberfläche. SNOM dagegen ermöglicht hochauflösende Messungen jenseits der Beugungsgrenze. Die Konfigurationen sämtlicher WITec-Instrumente können auf- bzw. nachgerüstet werden, so dass die Systeme um neue Analyseverfahren erweitert werden können.

  • WITec AFM Steel Surface
    Topografie einer Stahloberfläche, aufgenommen im AFM-Modus.
  • WITec Raman Membrane TiO2
    Konfokales Raman-Bild einer porösen Membran: Fasern (rot), ölgefüllte Poren (blau) und TiO2-Partikel (grün).

Imagingsysteme für die Materialwissenschaften

Literatur

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