Historia y Premios

Historia y Premios

  • Nuestra historia comenzó con la introducción del primer dispositivo de Microscopio óptica de campo cercano (SNOM) provisto de un cantilever SNOM, fácil de usar que permite adquirir imágenes de alta resolución, superando el límite de difracción. Además WITec lanzó con éxito el modo de fuerza pulsada (PFM) como un modo adicional de AFM, con el que se puede determinar, además de su topografía, la rigidez y adherencia local de la muestra.

    Con el lanzamiento del primer sistema de imagen Confocal Raman en 1999, WITec sobrepasó todos los parámetros existentes en Mapeo Raman, tanto en términos de sensibilidad, como de rapidez y resolución óptica. Desde entonces WITec ha sido pionera en el uso de espectroscopía Raman como herramienta para la proyección de imágenes químicas en 3D.

    WITec lanza continuamente nuevas tecnologías altamente innovadoras. En el año 2010, WITec presentó la patente en trámite TrueSurface para el análisis de profilometria. La exclusiva tecnología TrueSurface que permite registrar ópticamente la topografía de la muestra, obtuvo ya varios premios de alto nivel.

    El diseño modular de los microscopios de WITec  permite la integración de Raman-Confocal y Microscopía de Barrido con Sonda (SPM) en un mismo sistema. Esta innovación puso en marcha el actual auge de sistemas combinados de Raman/SPM.

    Como resultado de nuestra experiencia, WITec ha recibido varios premios por desarrollar productos innovadores:

  • WITec Timeline 1997 2021