alpha300A - Caracterización de Superficies a Escala Nanométrica
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El Microscopio de Fuerza Atómica alpha300A de WITec está especialmente diseñado para investigación de materiales, nanotecnología y ciencias de la vida. Integra un microscopio óptico para alinear el cantilever de forma sencilla e inspeccionar la muestra con imágenes de alta calidad y resolución.
Es compatible con todos los modos estándar de AFM, lo que garantiza una alta flexibilidad en un gran rango de aplicaciones. Este sistema modular permite la aplicación a otras técnicas como la microscopía Confocal, microscopía Raman Confocal e incluso SNOM, permitiendo un estudio más completo de la muestra. El usuario puede alternar fácilmente entre los diferentes métodos, simplemente girando la rueda de objetivos del microscopio.
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Características Principales
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- Caracterización de la superficie a escala nanométrica
- Resolución Lateral: < 1 nm
- Resolución Topográfica: < 0.3 nm
- Incluye una amplia gama de modos de AFM
- Fácil acceso a la muestra en cualquier dirección
- Simple de usar tanto en aire como en líquido
- Tecnología única en la manipulación del cantilever, permite un ajuste fácil y cómodo
- Mesas de barrido piezoeléctricas, precisamente controladas con TrueScan™, permite seleccionar dentro de un variado rango de barridos: 30 x 30 x 20 µm³; 100 x 100 x 20 µm³; o 200 x 200 x 20 µm³
- Técnica de imagen no destructivo con una preparación mínima de la muestra y en la mayoría de los casos sin ninguna preparación
- Puede combinarse con sistema de imágenes Raman Confocal y Microscopía de Campo Cercano (SNOM) en el mismo microscopio
Ejemplos de aplicación
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Imagen Topográfica en AFM del esternónde una Oniscidea adulta (Porcellio scaber). -
Medición de los dominios magnéticos del disco duro de un computador. Las mediciones se realizaron mediante técnica de modo AC utilizando cantilevers con puntas magnetizadas. -
Imagen digital del modo de fuerza pulsada de bacterias fosilizadas. La imagen muestra la diferencia en los niveles de adherencia en la superficie de la muestra.
Especificaciones
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Modos de Operación:
- Modo contacto
- Modo Acústico (Tapping Mode)
- Mode de Fuerza Pulsada (DPFM)
- Microscopía de Doble Paso (Lift Mode™)
- Microscopía de Fuerza Magnética (MFM)
- Microscopía de Fuerza Eléctrica (EFM)
- Imágenes de Fase
- Curvas de Fuerza Distancia
- Litografía y Nano-manipulación (DaVinci)
- Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
- Microscopía de Fuerza Química (CFM)
- Otros Modos Opcionales
Características del Microscopio:
- Microscopio Óptico de Investigación, con revolver para 6 objetivos.
- Sistema de Video: Camara de video CCD
- Fuente de iluminación blanca LED para iluminación Koehler sobre la punta y la muestra
- Posicionamiento manual de la muestra en direcciones x-y, rango de 25 mm
- Base de Microscopio con sistema de aislación activa de vibraciones.
- Mesa de barrido piezoeléctrica (rango de barrido 100 x 100 x 20 µm3; otros opcionales)
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Cantilevers de AFM:
- Sistema de posicionamiento mecánico inercial para controlar el desplazamiento de los cantilevers de AFM
- Permite el uso de la mayoría de los cantilevers disponibles en el mercado
Sensores
- Cantilevers AFM para modo Acústico AC, con recubrimiento relectante, pre montados en anillos magnéticos
- Cantilevers AFM para modo Contacto, con recubrimiento relectante, pre montados en anillos magnéticos
Tamaño de Muestras
- Usualmente 120 mm en dirección x-y, 25 mm em altura (adaptadores para mayores alturas disponibles)
Interfase Computacional
- Software WITec Suite que permite tanto el control del instrumento y de las mediciones como la evaluación y procesamiento de lo datos adquiridos
Extensiones & Combinaciones
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alpha300 RA para imágenes Raman-AFM combinadas
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Literatura
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WITec alpha300 Brochure
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